一(yi)、概況：

智能介質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀是一種先進的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。

介質損耗測(ce)試儀淘(tao)汰(tai)了QSI高壓(ya)(ya)電(dian)橋(qiao)，具有操作簡(jian)單、中文(wen)顯示、打印(yin)、使用方(fang)便、無需(xu)換(huan)算、自帶高壓(ya)(ya)，抗干擾(rao)能力強， 測(ce)試時間短等優點;

介質(zhi)(zhi)損耗(hao)測試(shi)儀針對電容(rong)式(shi)電壓互感器(qi)(qi)(CVT)試(shi)驗困難的特點,增設了外接(jie)法測試(shi),外接(jie)標(biao)準電容(rong)器(qi)(qi)、調壓器(qi)(qi),使(shi)得測試(shi)非常簡(jian)單可靠,是(shi)我廠的第三(san)代智能化介質(zhi)(zhi)損耗(hao)測試(shi)儀。

二、智能介質(zhi)損耗(hao)測試儀技術指標：

1、環境：-5℃～40℃（液(ye)晶(jing)屏應避免長時間日照）

2、相(xiang)對濕度：30%～70%

3、供(gong)電(dian)電(dian)源：電(dian)壓(ya)：220V±10%，頻率50±Hz

4、外形尺寸：長*寬*高=435mm*300mm*300mm

5、重量：20kg

6、輸出(chu)功率：1KVA

7、顯示分辨(bian)率：3位(wei)、4位(wei)（內部(bu)全是6位(wei)）

8、測試方法：正接(jie)法、反接(jie)法、外接(jie)法

9、測量范(fan)圍(wei)：

內接試驗(yan)電壓：≤60000PF

外(wai)接試驗電壓：≤10μF

10、基本測(ce)量誤差：

介質損耗（tgδ）：1.5%±0.09%

電容容量（Cx）：1.0%±2PF

三、產品特點：

1、儀器進行故障分析。
2、抗干擾能力強，在500KV（甚至更高）電壓等級下的變電站的現場也能保持結果穩定、可靠，不僅能單頻測試，也可實現45/55Hz雙頻測試。
3、儀器的試驗電壓實行“緩升緩降"，有效的防止“容升"效應，保護試品和儀器的安全。
4、變頻抗干擾介質損耗測試儀儀器實現過流過載的預前保護，能迅速切斷試驗電源，以保護試品和儀器的安全。
5、儀器測試電纜采用硅橡膠以及其他特種絕緣材料復合制作而成，輕便柔軟，10KV電壓等級下可拖地使用。
6、儀器附帶電子萬年歷和大容量存儲空間，可記憶100組測試數據。
7、儀器帶有標準的RS232接口，儀器內大量測試數據可上傳給大型計算機使用。